 | | |
| itso.t написа: Идеята звучи леко вандалски, но в определени случи върши работа - ниско напрежение с по-големичък ток. По ясно се измерват разликите в потенциалите на отделните точки, а на моменти директно може да се хване късото по греещият компонент (ако е компонент). | |
| | |
Това е последният вариант, тестван е десетки пъти и работи (при GSM-ите). Когато вече всички способи не са дали резултат. Започва се от 1 ампер подава се и се следи дали някъде има заграване, ако не - вдигаме тока постепенно, по този начин са откривани пробили чипове и смд-кондензатори които без сваляне няма как да се открият.
Но това е доста вандалски метод все пак, така че го оставяш за последно.